[讨论]请教各位大牛，为什么DFT流程中，我做了LBIST，测试覆盖率反而下降了

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各位，最近项目里有个情况：ATPG我使用了两套流程：

第一，用tessent工具插入了测试点，再做scan insert和x-bounding，然后再做EDT，但不做LBIST,再做ATPG，测试覆盖率可以达到99%

第二，还是用工具插入了测试点，再做scan insert和x-bounding，然后做EDT/LBIST的混合流程，再做ATPG，测试覆盖率只有91%

这是为何？我做了LBIST之后，测试覆盖率反而下降了，我看了一下，做了LBIST之后，增加了7%的寄存器，而且这些寄存器都是不带SI/SE pin的寄存器，没有加入扫描链，还有与之相连的组合逻辑，也肯定扫描不到。我再想为什么做ATPG时，工具不排除掉LBIST的逻辑，计算覆盖率啊。

这种情况，大家怎么看，如何解决？